1Le déclarant, le possesseur ou le propriétaire des produits semi-conducteurs peut demander à l’OFDF de s’opposer au prélèvement de spécimens ou d’échantillons. La demande doit être motivée.
2L’OFDF informe le déclarant, le possesseur ou le propriétaire des produits semi-conducteurs de la possibilité prévue à l’al. 1 et lui impartit un délai raisonnable.
3Si l’OFDF autorise le requérant à inspecter les produits semi-conducteurs retenus, il fixe la date en prenant en considération de manière appropriée les intérêts du requérant, d’une part, et ceux du déclarant, du possesseur ou du propriétaire, d’autre part.